測量IGBT模塊以識別它(ta)的好壞：

　　1、判斷極性

　　首先將萬(wan)用(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)撥在R×1KΩ擋，用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)測(ce)量(liang)時(shi)，若某一(yi)極(ji)與(yu)其它兩(liang)極(ji)阻(zu)(zu)值為(wei)無(wu)窮(qiong)大，調(diao)換(huan)表(biao)(biao)(biao)筆后該極(ji)與(yu)其它兩(liang)極(ji)的阻(zu)(zu)值仍為(wei)無(wu)窮(qiong)大，則判斷(duan)此極(ji)為(wei)柵極(ji)（G）。其余(yu)兩(liang)極(ji)再用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)測(ce)量(liang)，若測(ce)得阻(zu)(zu)值為(wei)無(wu)窮(qiong)大，調(diao)換(huan)表(biao)(biao)(biao)筆后測(ce)量(liang)阻(zu)(zu)值較小(xiao)(xiao)。在測(ce)量(liang)阻(zu)(zu)值較小(xiao)(xiao)的一(yi)次中，則判斷(duan)紅表(biao)(biao)(biao)筆接的為(wei)集電極(ji)（C）；黑表(biao)(biao)(biao)筆接的為(wei)發射極(ji)（E）。 

　　2、判斷好(hao)壞 

　　將萬用(yong)表(biao)撥(bo)在R×10KΩ擋，用(yong)黑(hei)表(biao)筆(bi)接(jie)IGBT的(de)(de)集電極(ji)(ji)（C），紅表(biao)筆(bi)接(jie)IGBT的(de)(de)發射極(ji)(ji)（E），此時(shi)萬用(yong)表(biao)的(de)(de)指(zhi)針在零位。用(yong)手指(zhi)同(tong)時(shi)觸(chu)及一(yi)(yi)(yi)下柵極(ji)(ji)（G）和集電極(ji)(ji)（C），這(zhe)時(shi)IGBT被(bei)觸(chu)發導通(tong)，萬用(yong)表(biao)的(de)(de)指(zhi)針擺(bai)向(xiang)阻值較(jiao)小(xiao)的(de)(de)方(fang)向(xiang)，并能(neng)站住指(zhi)示在某(mou)一(yi)(yi)(yi)位置。然后再用(yong)手指(zhi)同(tong)時(shi)觸(chu)及一(yi)(yi)(yi)下柵極(ji)(ji)（G）和發射極(ji)(ji)（E），這(zhe)時(shi)IGBT被(bei)阻斷，萬用(yong)表(biao)的(de)(de)指(zhi)針回零。此時(shi)即可判斷IGBT是(shi)好的(de)(de)。 

　　3、任何指針(zhen)式萬用(yong)表皆可(ke)用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)測(ce)IGBT。注(zhu)意判(pan)斷IGBT好壞(huai)時，一定要將萬用(yong)表撥在R×10KΩ擋(dang)，因R×1KΩ擋(dang) 以下(xia)各(ge)檔萬用(yong)表內(nei)部電(dian)池電(dian)壓太低，檢(jian)(jian)測(ce)好壞(huai)時不能(neng)使IGBT導通，而無(wu)法(fa)判(pan)斷IGBT的好壞(huai)。此方(fang)法(fa)同(tong)樣也可(ke)以用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)測(ce)功(gong)率場效應晶(jing)體管（P-MOSFET）的好壞(huai)。

　　將(jiang)萬用(yong)(yong)(yong)表撥(bo)在(zai)(zai)R×10KΩ擋,用(yong)(yong)(yong)黑表筆接IGBT 的漏極(ji)(ji)(D),紅表筆接IGBT 的源極(ji)(ji)(S),此時萬用(yong)(yong)(yong)表的指(zhi)針指(zhi)在(zai)(zai)無(wu)窮(qiong)處.用(yong)(yong)(yong)手指(zhi)同時觸及一(yi)下柵(zha)極(ji)(ji)(G)和(he)漏極(ji)(ji)(D),這(zhe)時IGBT 被(bei)觸發(fa)導通,萬用(yong)(yong)(yong)表的指(zhi)針擺向(xiang)阻(zu)值較(jiao)小的方向(xiang),并能站(zhan)住指(zhi)示在(zai)(zai)某一(yi)位(wei)置.然后再用(yong)(yong)(yong)手指(zhi)同時觸及一(yi)下源極(ji)(ji)(S)和(he)柵(zha)極(ji)(ji)(G),這(zhe)時IGBT 被(bei)阻(zu)斷,萬用(yong)(yong)(yong)表的指(zhi)針回到無(wu)窮(qiong)處.此時即可判(pan)斷IGBT 是好的.

　　注意:若進第(di)二次測量時,應短接一下源極(S)和柵(zha)極(G).

　　任(ren)何(he)指針式萬用表皆可用于檢測IGBT.注意判斷(duan)IGBT 好壞時(shi),一定(ding)要將萬用表撥在(zai)R×10KΩ擋(dang),因R×1KΩ擋(dang)以下各檔萬用表內部電(dian)池電(dian)壓太(tai)低,檢測好壞時(shi)不能使(shi)IGBT 導通,而無(wu)法(fa)判斷(duan)IGBT 的好壞.